G01N 23/00 - Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе G01N 21/00 или G01N 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения (G01N 3/00-G01N 17/00 имеют преимущество; измерение силы вообще G01L 1/00; измерение ядерного или рентгеновского излучения G01T; введение объектов или материалов в ядерные реакторы, извлечение их из ядерных реакторов или хранение их после обработки в ядерных реакторах G21C; конструкция или принцип действия рентгеновских аппаратов или схемы для них H05G)

---

23/02

.

путем пропускания излучений через материал

23/04

.

.

с последующим получением изображения (электронные микроскопы H01J)

23/05

.

.

.

с использованием нейтронов [3]

23/06

.

.

с последующим измерением поглощения

23/08

.

.

.

с помощью электрических средств обнаружения

23/083

.

.

.

.

рентгеновского излучения (G01N 23/10-G01N 23/18 имеют преимущество) [5]

23/087

.

.

.

.

.

с использованием полиэнергетического рентгеновского излучения [5]

23/09

.

.

.

.

нейтронного излучения [3]

23/10

.

.

.

.

материалов, заключенных в сосуд (G01N 23/09 имеет преимущество) [3]

23/12

.

.

.

.

жидких, газообразных или сыпучих веществ (G01N 23/09 имеет преимущество) [3]

23/14

.

.

.

.

.

с регулированием или контролем процессов или с сигнализацией

23/16

.

.

.

.

движущихся листовых материалов (G01N 23/09, G01N 23/18 имеют преимущество) [3]

23/18

.

.

.

.

обнаружение локальных дефектов или вкраплений (G01N 23/09 имеет преимущество) [3,5]

23/20

.

с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения

23/201

.

.

путем измерения малых углов рассеяния [2]

23/202

.

.

.

с использованием нейтронов [3]

23/203

.

.

путем измерения обратного рассеяния [2]

23/204

.

.

.

с использованием нейтронов [3]

23/205

.

.

дифракционными камерами (G01N 23/201 имеет преимущество) [2]

23/206

.

.

.

с использованием нейтронного излучения [3]

23/207

.

.

средствами дифрактометрии с использованием детекторов, например с использованием различающего спектр кристалла или анализируемого кристалла, расположенного в центре, и одного или нескольких детекторов, перемещаемых по окружности (G01N 23/201 имеет преимущество; спектрометрия интенсивности индикаторного или измеряемого излучения G01T 1/36) [2]

23/22

.

измерением вторичной эмиссии [2]

23/221

.

.

активационным анализом [2]

23/222

.

.

.

с использованием нейтронов [3]

23/223

.

.

облучением образца рентгеновскими лучами и измерением рентгенофлуоресценции [2]

23/225

.

.

с использованием электронного или ионного микроскопа (трубки с электронным или ионным пучком для микроанализа H01J 37/00) [2]

23/227

.

.

измерением фотоэлектрического эффекта, например оже-электронов [2]